LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀

涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042具有精準(zhǔn)的測量技術(shù)和簡單的操作方法，是的涂層測厚儀。通過解鎖代碼，可以使儀器在現(xiàn)場迅速的升級。

可定制帶系統(tǒng)的涂層測厚

涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042利用磁感應(yīng)法（DIN EN ISO 2178）測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法（DIN EN ISO 2360）測量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚度。

儀器將一種把測厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合，同時提供10種可供任意選擇的語言，以滿足客戶的各種需求,是一種經(jīng)濟(jì)的產(chǎn)品，電池壽命長，可以連續(xù)工作100小時以上。儀器記錄工作時間和測量數(shù)量，因此一些重要的參數(shù)可以被保存。

彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi)，可以保護(hù)儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。

特點概述:

大圖解屏幕48 mm x 24 mm,有背景燈

校準(zhǔn)選項

出廠時已校準(zhǔn)，立即可用

在未知涂層上校準(zhǔn)

零校準(zhǔn)

在無涂層的基體上一點和多點校準(zhǔn)

在有涂層的基體上校準(zhǔn)

校準(zhǔn)數(shù)據(jù)可以別單獨存儲在獨立的校準(zhǔn)檔案中，也可以隨時調(diào)出

可選擇的顯示模式，以佳形式去完成測量任務(wù)

輸入和極限監(jiān)視*

在Windows下有簡單的存儲讀數(shù)檔案管理

可用的電腦軟件STATWIN 2002和EasyExport

統(tǒng)計：

可統(tǒng)計評估999個讀數(shù)

小值、大值、測量個數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)偏差和極限監(jiān)視

局部厚度和平局膜層厚度（DIN EN ISO 2808）

在線統(tǒng)計，所有統(tǒng)計值概括

LEPTOSKOP 2042有3種配置級別：
基本型– 證明質(zhì)量的基本特征                              

高級型- 附加統(tǒng)計評估

專業(yè)型- 統(tǒng)計評估和數(shù)據(jù)存儲

如果針對新的測量要求，而需要儀器增加新的功能，可以在任何時候把儀器升級為高級型和/或?qū)I(yè)型。升級只需在現(xiàn)場輸入解鎖代碼，“統(tǒng)計”和/或“統(tǒng)計& 數(shù)據(jù)存儲”，便可完成；而不需要把儀器反廠或重新購買新機(jī)器。

多樣的探頭：

多樣的外部探頭使LEPTOSKOP 2042在困難的條件下，更容易地測量復(fù)雜幾何圖形上的特殊涂層厚度。涂層厚度是20mm也是可以的。根據(jù)需求，我們也可以訂做特殊探頭。

有任何疑問，請及時與我們溝通！期待您的電鈴！

       電話：0755-89686581

           13265803631/鴻澤