TSI 3910型納米顆粒粒徑譜儀特點(diǎn)與優(yōu)勢(shì)

實(shí)時(shí)納米尺寸的測(cè)量

理想的應(yīng)用需求的可移植性 

·道路

·工作場(chǎng)所調(diào)查

·領(lǐng)域的研究

·點(diǎn)源識(shí)別

允許用戶從多個(gè)站點(diǎn)收集更多的數(shù)據(jù)

開辟了同步的時(shí)間和空間測(cè)量的可能性

提供了新的研究機(jī)遇進(jìn)入納米微粒的發(fā)射/曝光測(cè)量和納米技術(shù)

易于學(xué)生和工人操作

簡(jiǎn)化數(shù)據(jù)分析和數(shù)據(jù)報(bào)告里是否有管理軟件

TSI 3910型納米顆粒粒徑譜儀應(yīng)用范圍

一般的應(yīng)用研究

室內(nèi)/室外空氣質(zhì)量調(diào)查

納米/納米顆粒的應(yīng)用

燃燒和排放的研究

移動(dòng)研究 

健康影響/吸入毒理學(xué) 

職業(yè)衛(wèi)生/工作場(chǎng)所暴露監(jiān)測(cè) 

點(diǎn)源識(shí)別  

包含組件

Nanoscan SMPS納米粒度儀

Nanoscan 經(jīng)理軟件光盤

Nanoscan 配件包

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